Probe cards

Prüfkarten werden im allgemeinen Parameter- oder im Funktionstest von integrierten Schaltkreisen auf Waferebene eingesetzt. Dabei ist es möglich, Prüfkarten zum Testen von einzelnen Chips = Single-Die-Testing oder auch zum Testen von mehreren Chips gleichzeitig = Multi-Die-Testing aufzubauen.

Das Merkmal einer Epoxyprüfkarte ist, dass die Prüfnadeln an der Unterseite der Platine – Waferseite - direkt an das PCB (Platine) angelötet sind. Die Nadeln sind lediglich über ein Einbettmaterial auf einem Träger befestigt.

Diese Bauweise garantiert – bei entsprechendem Layout der Platine - kurze Laufzeiten der Testsignale, hohe Packungsdichte und ermöglicht das Multi–Die–Testing.